要看礦石用什么顯微鏡？
顯微鏡下礦物的鑒別特征
光學(xué)顯微鏡下不透明礦物的鑒定
礦石顯微鏡下所觀察鉆石表面或內(nèi)部的特征
偏光顯微鏡下透明礦物的鑒定
(1)首先區(qū)分透明礦物與不透明礦物，然后根據(jù)正交偏光顯微鏡下的消光現(xiàn)象分出均質(zhì)體礦物與非均質(zhì)體礦物。
(2)均質(zhì)體礦物的鑒定:均質(zhì)體礦物的特點(diǎn)是在正交偏光顯微鏡下為全消光，錐光條件下無干涉圖。因此對于均質(zhì)體礦物僅能在單偏光顯微鏡下觀察晶形、解理、顏色、突起、糙面、貝克線等。
(3)非均質(zhì)體礦物的鑒定。
1)在單偏光顯微鏡下觀察晶形、解理，測定解理夾角、突起等級等。在正交偏光顯微鏡下觀察消光類型、雙晶、干涉色級序及延性符號等。
2)選擇一個(gè)垂直光軸的切面，在錐光條件下根據(jù)干涉圖特點(diǎn)，確定軸性、測定光性符號。若為二軸晶，還可估計(jì)2V大小，光差光軸色散等。再換單偏光顯微鏡觀察。并可測定其折光率大小。
3)選擇平行光軸(一軸晶)或平行光軸面(二軸晶)的切面，在正交偏光顯微鏡下測定zui高干涉色級序。如果厚度標(biāo)準(zhǔn)(0.03 mm)，還可以求zui大雙折射率，測定zui大消光角(單斜晶系)或特定切面的消光角，然后確定方位，并利用此種切面測定顏色的多色性及吸收性，測定折光率及觀察閃突起等。
未知礦物的鑒定程序在應(yīng)用時(shí)應(yīng)是靈活的。礦物的特征是多方面的，但在鑒定中要抓住其區(qū)別于其他礦物的重要特征。如鉀礦石、斜長石和石英，根據(jù)它們的突起、雙晶和表面的次生變化，無需錐光系統(tǒng)就可把它們鑒定出來。再如輝石和角閃石，解理夾角及多色性是zui重要的特征。總之熟練掌握各種礦物的典型特征，靈活運(yùn)用鏡下鑒定方法，可以達(dá)到快捷、準(zhǔn)確鑒定透明礦物的目的。
光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡是礦相學(xué)和礦物表征的*工具。典型的應(yīng)用是對礦物的紋理和解離進(jìn)行定性、定量分析及測定。大部分巖石和礦物樣品含有光學(xué)各向異性材料。顏色是在顯微鏡下鑒定礦物的zui重要屬性之一。因此，偏光顯微鏡對礦物樣品的鑒定與研究具有十分重要的作用。偏光顯微鏡能夠分析晶粒大小和形狀、結(jié)晶度和巖石礦物形貌，幫助識別各類巖石礦物。
檢測更多的特性
偏光顯微鏡在礦物表征中的廣泛應(yīng)用包括分析多色性、折射率和整體表面形貌，以及孿晶、雜質(zhì)和解理等。巖石形成的條件，如溫度、壓力、形成時(shí)的組份、溶液結(jié)晶化或熔體凝固化，都會(huì)影響礦物形貌、結(jié)晶及光學(xué)特性，也可以作為我們判定某一特定巖石的成因和來源的依據(jù)。
適用于您特定需求的各種觀察方式
借助透射偏光顯微鏡可以對拋光薄片進(jìn)行研究，運(yùn)用正交、錐光、DIC 及相差等各種透射光技術(shù)識別單個(gè)晶體和礦物顆粒。對于不透明的礦物，利用明場、暗場、DIC（微分干涉相差）或 C-DIC 等反射光觀察方法，能夠分析比如攣晶的顏色、晶體解理面及形貌等特征。大多數(shù)情況下，在對各向異性材料進(jìn)行分類時(shí)，對錐光觀察獲得的干涉圖像進(jìn)行分析的價(jià)值遠(yuǎn)勝于物體本身的圖像信息。
選擇適合的儀器
在礦物學(xué)教育和礦石研究領(lǐng)域中，偏光顯微鏡也是您的首要選擇，它包括簡易的觀察系統(tǒng)和的分析型儀器。這類顯微鏡永遠(yuǎn)不會(huì)過時(shí)，并能隨時(shí)進(jìn)行升級。它可以提供無應(yīng)力光學(xué)元件、全功能的觀察方式和測量技術(shù)，正交偏光和錐光鑒定，解理角的測定，并有多種選配件以及數(shù)字分析功能。
奧林巴斯常見的偏光顯微鏡型號：奧林巴斯BX41P，奧林巴斯BX51P，奧林巴斯BX53P。用戶如果有需求可致電咨詢。